(1) 覆盖层厚度大于25μm时,其差与覆盖层厚度近似成正比。

　　(2) 基体金属的电导率对测量有影响,它与基体金属材料成分及热处理方法有关。

　　(3) 任何一种测厚仪都要求基体金属有一个临界厚度,只有大于这个厚度,测量才不会受基体金属厚度的影响。

　　(4) 涡流测厚仪对式样测定存在边缘效应，即对靠近式样边缘或内转角处的测量是不可靠的。　　

    (5) 试样的曲率对测量有影响,这种影响将随曲率半径的减小明显地增大。

　　(6) 基体金属和覆盖层的表面粗糙度影响测量的精度,粗糙度增大,影响增大。